4200-SCS/C, Система измерения параметров полупроводников

Cистема Keithley 4200-SCS – универсальная система для измерений I-V (вольт-амперных характеристик –ВАХ) и С-V (вольт-фарадных характеристик) на постоянном токе и в импульсном режиме для полупроводниковых приборов и тестовых структур на пластине в полупроводниковом производстве.
Система имеет модульную многоканальную архитектуру и настраиваемую конфигурацию, поддерживая до 9 измерительных и дополнительных модулей.

Обеспечивает:
Измерение ВАХ в диапазоне токов 0.1 фА до 1 А и напряжения от 1 мкВ до 210 В
Измерение C-V в диапазоне до 400 В с разрешением 5 мВ, в частотном диапазоне от 1 кГц до 10 МГц
Ультрабыстрое и импульсное тестирование с временным разрешением 10 нс

Основные особенности:
Встроенный системный контроллер с процессором 2 Duo-Pentium и поддержкой монитора высокого разрешения
Шасси поддерживает до 9 измерительных модулей одновременно
Опционально предусилитель малых токов для модулей средней и высокой мощности
Измерение вольт-фарадных (C-V) характеристик с дифференциальным смещением ±60 В и в диапазоне частот от 1 кГц до 10 МГц, а также в квазистатическом режиме и ультраникочастотную CV-метрию
Опциональное измерение высоковольтных Вольт-фарадных (С-V) характеристик в диапазоне дифференциального напряжения до 400 В
Интерактивная интуитивно понятная пользовательская среда тестирования (КITE) позволяет быстро решать задачи по управлению процессом измерения и тестирования
Библиотека до 450 стандартных тестов

Рабочая станция на базе Windows XP
Процессор Pentium Core 2 Duo 6400
Память - 2 Гб
Жесткий диск -500 Гб SATA HDD
DVD/CD-RW
Встроенный 12-дюймовый дисплей с выходом на внешний SVGA Монитор
Порты LAN, GPIB, USB, RS-232, Parallel Printer Port
Система измерения параметров полупроводников Keithley 4200 - это комплекс аппаратных и программных средств.